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簡単な手順で確実な測定のできる、蛍光X線貴金属分析装置Fischerscope X-RAY XAN120、2011バージョン登場。
特徴
●蛍光X線分析装置は地金の成分やメッキの成分、メッキ厚などを短時間で簡単に分析する事が可能です。
●地金にX線ビームを当てた時に出る蛍光X線を検出して分析するので、商品を融解したり、溶かしたりする必要がない非破壊な分析法です。
●測定は商品を直接装置内に置くだけ。従来の乾式試金法で重要だった試料の前処理を行わないので、熟練技術は必要ありません。
●試料の寸法・形状は問いません。リング、プレート、ツリーのまま測定可能。固体、粉末状、ペースト状あるいは液体でも分析可能です。
Made in Germany
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測定方法
@試料扉を開けて、試料を置く。
A測定開始後数十秒で上記のようなスペクトルが得られ、成分元素が判明します。
Bさらに、数分で各成分の含有量(wt%)が表示されます。
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スペック
| 定器タイプ |
高エネルギー分解能蛍光X線分析器 |
| アプリケーション |
材料分析と膜厚測定
エレメントAI(13)〜U(92)
金、銀、プラチナ、その他金属
メッキ圧測定、太陽電池、物理分析、
パウダー |
| 特徴 |
マニュアルポジショニング |
| Softwear(1) |
WinFTM X.6;PDM Standard |
| X線照射方向 |
↑X線照射方向(下から上) |
| X-ray Tube |
マイクリフォーカスチューブ
2つのプライマリーフィルタ(Ai,Ni)
自動エネルギーセーブ機能 |
| Collimators |
コリメーター(モーターコントロール)
Round:0.1mm/0.2mm(オプション) |
| 測定最小スポット |
Ф0.3mm |
| フォーカスレンジ |
2mm |
| 検出器 |
半導体検出器(高分解能) |
| 測定テーブル |
固定測定テーブル |
| サンプル位置決め |
固定測定テーブルビデオモニターを見て位置を決める |
| 自動、マニュアル、X-Yテーブル |
固定式 |
| Z軸 |
2mmまでの可変フォーカス |
| 寸法(mm)/重量 |
W=320;D=460;H=90/40kg |
| 測定チャンバー |
大きな測定チャンバー |
| フォーカス |
ビジュアルフォーカス(マニュアル) |
| 倍率 |
光学ズーム :34ー46x
デジタルズーム:1,2,3,4x
Total :34-184x |
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届出:ご使用にあたって所轄の労働基準監督署への届出が必要です。
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